BAUMANN Multitester


Kombinierte Prüftechnik für Leiterplatten, Bauteile und Steuergeräte

Der BAUMANN Multitester ist eine modulare Plattform für automatisierte Prüfprozesse mit einer hohen Anzahl an Kontaktier- und Prüfmechaniken. Unterschiedliche Testverfahren lassen sich platzsparend in einem System kombinieren – vom elektrischen Funktionstest über HF- und RF-Prüfungen bis zur Visionprüfung.

Durch den modularen Aufbau kann das Testsystem flexibel an unterschiedliche Prüfaufgaben, Stückzahlen und Produktionsanforderungen angepasst und bei Bedarf stufenweise erweitert werden.

Baumann Multitester
Baumann Multitester

Ihre Vorteile auf einen Blick:

  • Kombination unterschiedlicher Testverfahren in einem System
  • Hohe Anzahl an Kontaktier- und Prüfmechaniken auf kompaktem Raum
  • Modular erweiterbare Systemarchitektur
  • Flexible Integration kundenspezifischer Prüfstationen
  • Taktzeitneutrales Rüsten
  • Automatisiertes Roboterhandling
  • Integrierbares Testequipment über 19"-Einschübe

Modulares Plattformkonzept für automatisierte Prüfprozesse

Die Basis des Multitesters bildet eine robuste Stahlrahmenkonstruktion mit integriertem Roboterhandling. Seitlich angedockte Prüfmodule ermöglichen eine flexible Konfiguration des Systems.

Pro Prüfmodul können bis zu sechs C-Kontaktiereinheiten in zwei Reihen übereinander angeordnet werden. Für Leiterplattentests sind insgesamt bis zu zwölf C-Kontaktiereinheiten in einem Multitester integrierbar.


Flexibel für unterschiedliche Produktionsanforderungen

Durch das modulare Konzept lässt sich der Multitester an die jeweilige Prüfaufgabe und Produktionsumgebung anpassen. Zusätzliche Funktionen können bedarfsgerecht integriert werden.

1- Prüfprozesse:

  • Bis zu sechs parallele Prüfprozesse mit unterschiedlichen Taktzeiten, z. B.: ICT, Flash und FKT, HF-und RF-Test
  • Mechanischer Funktionstest
  • Visionprüfung
  • Weitere kundenspezifische Prüfverfahren
  • Skalierbar für High-Volume-Produktion
  • Modular erweiterbar bei steigenden Anforderungen

2 - Prüfrechner:

  • Zusätzlich können Leiterplattentests über C-Kontaktiereinheiten mit kundenspezifischen Prüfstationen oder Prüfzellen kombiniert werden. Das erforderliche Prüfequipment lässt sich in die vorgesehenen 19"-Einschübe integrieren.


Mid Volume - 6 Teststationen
Mid Volume - 6 Teststationen


3 - Optionen:

  • Integrierte Fehlteil-Ausschleusung
  • Einschleusung von Reparaturteilen oder Golden Samples
  • Stufenweiser Ausbau
  • Taktzeitneutrales Rüsten
High Volume - 12 Teststationen
High Volume - 12 Teststationen
High Volume Extended - 24 Teststationen
High Volume Extended - 24 Teststationen

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